Prueba de resistencia óhmica a devanados
Según la IEEE C57 e IEEE C62, esta prueba permite detectar los valores elevados de resistencia de contactos, causados por falsos contactos, espiras en corto circuito, cambiador de derivaciones en mal estado o algún devanado abierto.
Encontrando problemas como conductores cortados, corto circuitos entre devanados, conexiones en mal estado en las boquillas del transformador y cambiador de taps.